Detalles MARC
| 000 -CABECERA |
|---|
| campo de control de longitud fija |
02162nam a2200421 i 4500 |
| 001 - NÚMERO DE CONTROL |
|---|
| campo de control |
Rebiun18032595 |
| 003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL |
|---|
| campo de control |
EC-UrYT |
| 005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN |
|---|
| campo de control |
20210827175212.0 |
| 006 - CÓDIGOS DE INFORMACIÓN DE LONGITUD FIJA--CARACTERÍSTICAS DEL MATERIAL ADICIONAL |
|---|
| campo de control de longitud fija |
s||||gr|||| 00| 00 |
| 008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL |
|---|
| campo de control de longitud fija |
130806s1998 gwu| | |||| 0|eng d |
| 020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO |
|---|
| Número Internacional Estándar del Libro |
9783540389675 |
| 020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO |
|---|
| Número Internacional Estándar del Libro |
9783642083723 |
| 040 ## - FUENTE DE LA CATALOGACIÓN |
|---|
| Centro catalogador/agencia de origen |
EC-UrYT |
| Centro/agencia transcriptor |
EC-UrYT |
| 041 ## - CÓDIGO DE LENGUA |
|---|
| Código de lengua del texto/banda sonora o título independiente |
eng |
| 082 04 - NÚMERO DE LA CLASIFICACIÓN DECIMAL DEWEY |
|---|
| Número de edición |
23 |
| Número de clasificación |
502.825 |
| 100 1# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA |
|---|
| Nombre de persona |
Reimer, Ludwig |
| 9 (RLIN) |
7479 |
| 245 10 - MENCIÓN DE TÍTULO |
|---|
| Título |
Scanning Electron Microscopy : |
| Resto del título |
Physics of Image Formation and Microanalysis / |
| Mención de responsabilidad, etc. |
by Ludwig Reimer. |
| 250 ## - MENCIÓN DE EDICIÓN |
|---|
| Mención de edición |
Second Edition, |
| Resto de la mención de edición |
Completely Revised and Updated Edition. |
| 264 34 - Producción, publicación, distribución, fabricación y copyright |
|---|
| Lugar de producción, publicación, distribución, fabricación |
Berlin, Heidelberg : |
| Nombre del de productor, editor, distribuidor, fabricante |
Springer, |
| Fecha de de producción, publicación, distribución, fabricación o copyright |
1998. |
| 300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA |
|---|
| Extensión |
xiv, 527 pages : |
| Otras características físicas |
illustrations ; |
| Dimensiones |
24 cm. |
| 490 0# - MENCIÓN DE SERIE |
|---|
| Mención de serie |
Springer series in optical sciences |
| Designación de volumen o secuencia |
45 |
| 505 2# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO |
|---|
| Nota de contenido con formato |
1. Introduction -- 2. Electron Optics of a Scanning Electron Microscope -- 3. Electron Scattering and Diffusion -- 4. Emission of Backscattered and Secondary Electrons -- 5. Electron Detectors and Spectrometers -- 6. Image Contrast and Signal Processing -- 7. Electron-Beam-Induced Current and Cathodoluminescence -- 8. Special Techniques in SEM -- 9. Crystal Structure Analysis by Diffraction -- 10. Elemental Analysis and Imaging with X-Rays. |
| 520 3# - SUMARIO, ETC. |
|---|
| Sumario, etc. |
Scanning Electron Microscopy provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interations. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channelling effects, and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information |
| 650 24 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
|---|
| 9 (RLIN) |
7481 |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial |
Scanning electron microscopy |
| 650 24 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
|---|
| 9 (RLIN) |
432 |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial |
Physics |
| 650 24 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
|---|
| 9 (RLIN) |
6298 |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial |
Spectroscopy |
| 650 24 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
|---|
| 9 (RLIN) |
4449 |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial |
Microscopy |
| 650 24 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
|---|
| 9 (RLIN) |
7482 |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial |
Microscopía electrónica de barrido |
| 650 24 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
|---|
| 9 (RLIN) |
102 |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial |
Física |
| 650 24 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
|---|
| 9 (RLIN) |
6297 |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial |
Espectroscopía |
| 650 24 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
|---|
| 9 (RLIN) |
4450 |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial |
Microscopía |
| 942 ## - ELEMENTOS DE PUNTO DE ACCESO ADICIONAL (KOHA) |
|---|
| Fuente del sistema de clasificación o colocación |
Clasificación Decimal Dewey |
| Tipo de ítem Koha |
Colección general |
| 999 ## - NÚMEROS DE CONTROL DE SISTEMA (KOHA) |
|---|
| Koha biblionumber |
3163 |
