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	1.	Roadmap of scanning probe microscopy / S. Morita (ed.). por Morita, S. (Seizo), 1948- Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Detalles de publicación: Berlin ; New York : Springer, c2007 Acceso en línea: Publisher description Table of contents only Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca Yachay Tech (3)Signatura topográfica: 502.825 R6286 2007, ... Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
	2.	Introduction to scanning tunneling microscopy / C. Julian Chen. por Chen, C. Julian Series Monographs on the physics and chemistry of materials ; 64 Edición: 2nd ed. Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Detalles de publicación: Oxford ; New York : Oxford University Press, 2008 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca Yachay Tech (1)Signatura topográfica: 502.82 C51811i 2008. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
	3.	No hay imagen de cubierta disponible Solving the atomic structure of ultra-thin CaF2 layers on the Si(100) surface / Joshua Mateo Salazar Mejía ; tutor Henry Paúl Pinto Esparza por Salazar Mejía, Joshua Mateo [autor] Pinto Esparza, Henry Paúl [tutor] Universidad de Investigación de Tecnología Experimental Yachay. Escuela de Cienicas Físicas y Nanotecnología Tipo de material: Texto; Forma literaria: No es ficción ; Audiencia: General; Idioma: Inglés Idioma del resumen: Español Fecha de copyright: Urcuquí, 2020 Nota de disertación: Trabajo de integración curricular (Físico/a). Universidad de Investigación de Tecnología Experimental Yachay. Urcuquí, 2020 Acceso en línea: Ver recurso Disponibilidad: Ítems disponibles para referencia: Biblioteca Yachay Tech: No se presta (1)Signatura topográfica: ECFN0032. Agregar al carrito (remover)