Detalles MARC
| 000 -CABECERA |
|---|
| campo de control de longitud fija |
02271cam a22004217a 4500 |
| 001 - NÚMERO DE CONTROL |
|---|
| campo de control |
17164617 |
| 005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN |
|---|
| campo de control |
20150612151019.0 |
| 008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL |
|---|
| campo de control de longitud fija |
120214s2012 paua b 101 0 eng |
| 010 ## - NÚMERO DE CONTROL DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO |
|---|
| Número de control de LC |
2011276248 |
| 016 7# - NÚMERO DE CONTROL DE UNA AGENCIA BIBLIOGRÁFICA NACIONAL |
|---|
| Número de control del registro |
015988681 |
| Fuente |
Uk |
| 020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO |
|---|
| Número Internacional Estándar del Libro |
9781605113128 |
| 020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO |
|---|
| Número Internacional Estándar del Libro |
1605113123 |
| 035 ## - NÚMERO DE CONTROL DEL SISTEMA |
|---|
| Número de control de sistema |
(OCoLC)ocn768244065 |
| 040 ## - FUENTE DE LA CATALOGACIÓN |
|---|
| Centro catalogador/agencia de origen |
CAI |
| Centro/agencia transcriptor |
CAI |
| Centro/agencia modificador |
UKMGB |
| -- |
YDXCP |
| -- |
DLC |
| 042 ## - CÓDIGO DE AUTENTICACIÓN |
|---|
| Código de autenticación |
lccopycat |
| 050 00 - SIGNATURA TOPOGRÁFICA DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO |
|---|
| Número de clasificación |
TK7874.53 |
| Número de documento/Ítem |
.S965 2011 |
| 082 00 - NÚMERO DE LA CLASIFICACIÓN DECIMAL DEWEY |
|---|
| Número de clasificación |
621.3815 |
| Número de edición |
23 |
| 111 2# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE CONGRESO/REUNIÓN |
|---|
| Nombre de congreso/reunión o jurisdicción como elemento de entrada |
Symposium O, "Materials, Processes, and Reliability for Advanced Interconnects for Micro- and Nanoelectronics" |
| Fecha del congreso/reunión |
(2011 : |
| Sede del congreso/Lugar de la reunión |
San Francisco, Calif.) |
| 245 10 - MENCIÓN DE TÍTULO |
|---|
| Título |
Materials, processes, and reliability for advanced interconnects for micro- and nanoelectronics--2011 : |
| Resto del título |
symposium held April 25-29, 2011, San Francisco, California, U.S.A. / |
| Mención de responsabilidad, etc. |
editors, Mikhail R. Baklanov ... [et al.]. |
| 260 ## - PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, ETC. (PIE DE IMPRENTA) |
|---|
| Lugar de publicación, distribución, etc. |
Warrendale, Penn. : |
| Nombre del editor, distribuidor, etc. |
Materials Research Society ; |
| Lugar de publicación, distribución, etc. |
Cambridge ; |
| -- |
New York : |
| Nombre del editor, distribuidor, etc. |
Cambridge University Press, |
| Fecha de publicación, distribución, etc. |
2012. |
| 300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA |
|---|
| Extensión |
ix, 127 p. : |
| Otras características físicas |
ill. ; |
| Dimensiones |
24 cm. |
| 490 1# - MENCIÓN DE SERIE |
|---|
| Mención de serie |
Materials Research Society symposium proceedings ; |
| Designación de volumen o secuencia |
v. 1335 |
| 500 ## - NOTA GENERAL |
|---|
| Nota general |
"Symposium O, 'Materials, Processes, and Reliability for Advanced Interconnects for Micro- and Nanoelectronics, held at the April 25-29, 2011 MRS Spring Meeting in San Francisco, California"--P. ix. |
| 504 ## - NOTA DE BIBLIOGRAFÍA, ETC. |
|---|
| Bibliografía, etc. |
Includes bibliographical references and indexes. |
| 650 #0 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
|---|
| Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial |
Interconnects (Integrated circuit technology) |
| Subdivisión de forma |
Congresses. |
| 650 #0 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
|---|
| Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial |
Integrated circuits |
| Subdivisión general |
Very large scale integration |
| Subdivisión de forma |
Congresses. |
| 650 #0 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
|---|
| Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial |
Microelectronics |
| Subdivisión de forma |
Congresses. |
| 650 #0 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
|---|
| Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial |
Nanoelectronics |
| Subdivisión de forma |
Congresses. |
| 650 #0 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
|---|
| Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial |
Materials |
| Subdivisión de forma |
Congresses. |
| 700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA |
|---|
| Nombre de persona |
Baklanov, Mikhail R. |
| 710 2# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE ENTIDAD CORPORATIVA |
|---|
| Nombre de entidad corporativa o nombre de jurisdicción como elemento de entrada |
Materials Research Society. |
| Unidad subordinada |
Meeting |
| Fecha del congreso/reunión o de la firma de un tratado |
(2011 : |
| Sede del congreso/Lugar de la reunión |
San Francisco, Calif.) |
| 830 #0 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE SERIE-TÍTULO UNIFORME |
|---|
| Título uniforme |
Materials Research Society symposia proceedings ; |
| Designación de número de volumen o secuencia |
v. 1335. |
| 856 42 - LOCALIZACIÓN Y ACCESO ELECTRÓNICOS |
|---|
| Especificación de materiales |
Publisher description |
| Identificador Uniforme del Recurso |
<a href="http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy1209/2011276248-d.html">http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy1209/2011276248-d.html</a> |
| 856 41 - LOCALIZACIÓN Y ACCESO ELECTRÓNICOS |
|---|
| Especificación de materiales |
Table of contents only |
| Identificador Uniforme del Recurso |
<a href="http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy1209/2011276248-t.html">http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy1209/2011276248-t.html</a> |
| 906 ## - ELEMENTOS DE DATOS F LOCAL, LDF (RLIN) |
|---|
| a |
7 |
| b |
cbc |
| c |
copycat |
| d |
2 |
| e |
ncip |
| f |
20 |
| g |
y-gencatlg |
| 942 ## - ELEMENTOS DE PUNTO DE ACCESO ADICIONAL (KOHA) |
|---|
| Fuente del sistema de clasificación o colocación |
Clasificación Decimal Dewey |
| Tipo de ítem Koha |
Colección general |
| 955 ## - INFORMACIÓN NIVEL-COPIA (RLIN) |
|---|
| Número de libro/signatura topográfica indivisible, CCAL (RLIN) |
xe10 2012-02-14 z-processor 2 copies to USPL |
| Classification number, CCAL (RLIN) |
xh00 2012-02-21 to USPL/STM |
| Estado de la copia, CST (RLIN) |
xh58 2012-02-28 ; to Dewey 2012-02-8 |
| 999 ## - NÚMEROS DE CONTROL DE SISTEMA (KOHA) |
|---|
| Koha biblionumber |
1295 |
