000 | 03165nam a22003977a 4500 | ||
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003 | EC-UrYT | ||
005 | 20221206085046.0 | ||
008 | 150116t9999 mx r gr 000 0 spa d | ||
040 | _cEC-UrYT | ||
041 |
_aeng _bspa |
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100 | 1 |
_914416 _aZapata Gavilanes, Richard Santiago _eautor |
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245 | 1 | 0 |
_aManufacture of thin film memcapacitor aluminum oxide nanopores filled with copper oxide by electrochemical self-organizing template / _cRichard Santiago Zapata Gavilanes ; tutor Gema González Vázquez |
264 | 4 |
_aUrcuquí, _c2021 |
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300 |
_a92 hojas : _bilustraciones (algunas a color) ; _c30 cm + _e1 CD-ROM |
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502 |
_aTrabajo de integración curricular _b(Ingeniero/a en Nanotecnología). _cUniversidad de Investigación de Tecnología Experimental Yachay. _gUrcuquí, _d2021 |
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504 | _aIncluye referencias bibliográficas (páginas 62-77) | ||
506 | _aTrabajo de integración curricular con acceso abierto | ||
516 | _aTexto (Hypertexto links) | ||
520 | _aEl presente proyecto muestra la fabricación de una película delgada con una densidad aproximada de 1.1 x 10^15de memcapacitors por m^2. El material modificado está compuesto por nano-poros de óxido de aluminio (AO) y dopado con alambres de nano-óxido de cobre (wCuOx). El material de partida para hacer el electrodo fue aluminio y mediante anodización electroquímica se obtuvo una membrana porosa de óxido de aluminio (AAO). A continuación, se utilizó AAO como sustrato para depositar wCuOx dentro de los poros para formar un material AOO / CuO. La caracterización morfológica de las películas obtenidas se realizó con un microscopio de fuerza atómica, microscopía electrónica de barrido y espectroscopía de rayos X de energía dispersiva. Y para caracterizar las propiedades eléctricas se utilizó voltamperometría cíclica y espectroscopía de impedancia electroquímica. Los resultados experimentales obtenidos mostraron un tamaño de poro de 50-200 nm con una profundidad de 40 um. La voltamperometría cíclica mostró el bucle de histéresis de conmutación resistiva característico de un condensador de memoria que muestra la variación de resistencia que va de 0 a 22,5 k\ohm. La espectroscopia de impedancia electroquímica mostró un valor de capacitancia de 1,14X 10^(-5)F para la alúmina y 6,82X 10^(-6)F para el material AOO / CuO | ||
546 | _aTextos en inglés con resúmenes en español e inglés | ||
650 | 0 |
_914417 _aOxido de aluminio |
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650 | 0 |
_914418 _aNanoporos |
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650 | 0 |
_914419 _aConmutación resistiva |
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650 | 0 |
_914420 _aImpedancia electroquímica |
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650 | 0 |
_914421 _aMemcapacitor |
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650 | 0 |
_914422 _aAluminum oxide |
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650 | 0 |
_914423 _aNano pores |
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650 | 0 |
_914424 _aNano wires |
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650 | 0 |
_914425 _aResistive switching |
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650 | 0 |
_92091 _aNanotecnología _vTrabajos y disertaciones académicas |
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700 | 1 |
_914345 _aGonzález Vázquez, Gema _etutor |
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710 | 1 |
_911232 _aUniversidad de Investigación de Tecnología Experimental Yachay. _bEscuela de Ciencias Físicas y Nanotecnología |
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856 |
_zVer recurso _uhttp://repositorio.yachaytech.edu.ec/handle/123456789/301 |
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942 |
_2ddc _cTIC |
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999 |
_c4266 _d4266 |