000 03165nam a22003977a 4500
003 EC-UrYT
005 20221206085046.0
008 150116t9999 mx r gr 000 0 spa d
040 _cEC-UrYT
041 _aeng
_bspa
100 1 _914416
_aZapata Gavilanes, Richard Santiago
_eautor
245 1 0 _aManufacture of thin film memcapacitor aluminum oxide nanopores filled with copper oxide by electrochemical self-organizing template /
_cRichard Santiago Zapata Gavilanes ; tutor Gema González Vázquez
264 4 _aUrcuquí,
_c2021
300 _a92 hojas :
_bilustraciones (algunas a color) ;
_c30 cm +
_e1 CD-ROM
502 _aTrabajo de integración curricular
_b(Ingeniero/a en Nanotecnología).
_cUniversidad de Investigación de Tecnología Experimental Yachay.
_gUrcuquí,
_d2021
504 _aIncluye referencias bibliográficas (páginas 62-77)
506 _aTrabajo de integración curricular con acceso abierto
516 _aTexto (Hypertexto links)
520 _aEl presente proyecto muestra la fabricación de una película delgada con una densidad aproximada de 1.1 x 10^15de memcapacitors por m^2. El material modificado está compuesto por nano-poros de óxido de aluminio (AO) y dopado con alambres de nano-óxido de cobre (wCuOx). El material de partida para hacer el electrodo fue aluminio y mediante anodización electroquímica se obtuvo una membrana porosa de óxido de aluminio (AAO). A continuación, se utilizó AAO como sustrato para depositar wCuOx dentro de los poros para formar un material AOO / CuO. La caracterización morfológica de las películas obtenidas se realizó con un microscopio de fuerza atómica, microscopía electrónica de barrido y espectroscopía de rayos X de energía dispersiva. Y para caracterizar las propiedades eléctricas se utilizó voltamperometría cíclica y espectroscopía de impedancia electroquímica. Los resultados experimentales obtenidos mostraron un tamaño de poro de 50-200 nm con una profundidad de 40 um. La voltamperometría cíclica mostró el bucle de histéresis de conmutación resistiva característico de un condensador de memoria que muestra la variación de resistencia que va de 0 a 22,5 k\ohm. La espectroscopia de impedancia electroquímica mostró un valor de capacitancia de 1,14X 10^(-5)F para la alúmina y 6,82X 10^(-6)F para el material AOO / CuO
546 _aTextos en inglés con resúmenes en español e inglés
650 0 _914417
_aOxido de aluminio
650 0 _914418
_aNanoporos
650 0 _914419
_aConmutación resistiva
650 0 _914420
_aImpedancia electroquímica
650 0 _914421
_aMemcapacitor
650 0 _914422
_aAluminum oxide
650 0 _914423
_aNano pores
650 0 _914424
_aNano wires
650 0 _914425
_aResistive switching
650 0 _92091
_aNanotecnología
_vTrabajos y disertaciones académicas
700 1 _914345
_aGonzález Vázquez, Gema
_etutor
710 1 _911232
_aUniversidad de Investigación de Tecnología Experimental Yachay.
_bEscuela de Ciencias Físicas y Nanotecnología
856 _zVer recurso
_uhttp://repositorio.yachaytech.edu.ec/handle/123456789/301
942 _2ddc
_cTIC
999 _c4266
_d4266