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	1.	Software metrics and software metrology / Alain Abran. por Abran, Alain, 1949- Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Detalles de publicación: Hoboken, N.J. : Los Alamitos, CA : Wiley ; IEEE Computer Society, c2010 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca Yachay Tech (3)Signatura topográfica: 005.14 A1618s 2010, ... Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
	2.	Laser metrology in fluid mechanics granulometry, temperature and concentration measurements / edited by Alain Boutier. por Boutier, A. (Alain) ebrary, Inc Series Waves series Tipo de material: Texto; Formato: electrónico disponible en línea ; Forma literaria: No es ficción Detalles de publicación: Hoboken, N.J. : ISTE Ltd./John Wiley and Sons Inc., 2013 Wiley-Blackwell Online Books Acceso en línea: Full text available from Wiley-Blackwell Online Books Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca Yachay Tech (1)Signatura topográfica: 532 L3433 2013. Hacer reserva Agregar al carrito (remover)
	3.	Basic process measurements / Cecil L. Smith. por Smith, Cecil L Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Detalles de publicación: Hoboken, N.J. : Wiley, c2009 Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca Yachay Tech (3)Signatura topográfica: 670.42 S6443b 2009, ... Hacer reserva Agregar al carrito (remover)

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