MEMS reliability / Allyson L. Hartzell, Mark G. da Silva, Herbert R. Shea ; Foreword by Stephen D. Senturia.
Tipo de material: TextoSeries MEMS reference shelfDetalles de publicación: New York : Springer, c2011.Descripción: xiii, 291 p. : ill. ; 25 cmISBN:- 9781441960177 (alk. paper)
- 1441960171 (alk. paper)
- 9781441960184 (eISBN)
- 144196018X (eISBN)
- 621.381 22
Contenidos:
Lifetime Prediction -- Failure Modes and Mechanisms: Failure Modes and Mechanisms in MEMS -- In-Use Failures -- Root Cause and Failure Analysis -- Testing and Standards for Qualification -- Continuous Improvement: Tools and Techniques for Reliability Improvement.
Tipo de ítem | Biblioteca actual | Signatura | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems | |
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Colección general | Biblioteca Yachay Tech | 621.381 H338m 2011 (Navegar estantería(Abre debajo)) | Ej. 1 | Disponible | 002660 | |||
Colección general | Biblioteca Yachay Tech | 621.381 H338m 2011 (Navegar estantería(Abre debajo)) | Ej. 2 | Disponible | 002661 | |||
Colección general | Biblioteca Yachay Tech | 621.381 H338m 2011 (Navegar estantería(Abre debajo)) | Ej. 3 | Disponible | 002662 |
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Includes bibliographical references and index.
Lifetime Prediction -- Failure Modes and Mechanisms: Failure Modes and Mechanisms in MEMS -- In-Use Failures -- Root Cause and Failure Analysis -- Testing and Standards for Qualification -- Continuous Improvement: Tools and Techniques for Reliability Improvement.
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