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Materials, processes, and reliability for advanced interconnects for micro- and nanoelectronics--2011 : symposium held April 25-29, 2011, San Francisco, California, U.S.A. / editors, Mikhail R. Baklanov ... [et al.].
Tipo de material:
TextoSeries Materials Research Society symposia proceedings ; v. 1335.Detalles de publicación: Warrendale, Penn. : Materials Research Society ; Cambridge ; New York : Cambridge University Press, 2012.Descripción: ix, 127 p. : ill. ; 24 cmISBN: - 9781605113128
- 1605113123
- 621.3815 23
- TK7874.53 .S965 2011
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Signatura | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems | |
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Biblioteca Yachay Tech | 621.3815 B1689m 2012 (Navegar estantería(Abre debajo)) | Ej. 2 | Disponible | 002668 | |||
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| 621.381045 N186 2010 Nanoscale photonics and optoelectronics / | 621.38132 H8168a 2015 The art of electronics / | 621.3815 B1689m 2012 Materials, processes, and reliability for advanced interconnects for micro- and nanoelectronics -- 2011 : | 621.3815 B1689m 2012 Materials, processes, and reliability for advanced interconnects for micro- and nanoelectronics -- 2011 : | 621.3815 B1689m 2012 Materials, processes, and reliability for advanced interconnects for micro- and nanoelectronics -- 2011 : | 621.3815 Z636a 2013 Aligned carbon nanotubes : | 621.3815 Z636a 2013 Aligned carbon nanotubes : |
"Symposium O, 'Materials, Processes, and Reliability for Advanced Interconnects for Micro- and Nanoelectronics, held at the April 25-29, 2011 MRS Spring Meeting in San Francisco, California"--P. ix.
Includes bibliographical references and indexes.
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