Detalles MARC
| 000 -CABECERA |
|---|
| Campo de control de longitud fija |
03934nam a22003857a 4500 |
| 003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL |
|---|
| Campo de control |
EC-UrYT |
| 005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN |
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| Campo de control |
20230106114924.0 |
| 008 - CÓDIGOS DE INFORMACIÓN DE LONGITUD FIJA |
|---|
| Campo de control de longitud fija |
150116t9999 mx r gr 000 0 spa d |
| 040 ## - FUENTE DE LA CATALOGACIÓN |
|---|
| Centro transcriptor |
EC-UrYT |
| 041 ## - CÓDIGO DE LENGUA |
|---|
| Código de lengua del texto/banda sonora o título independiente |
eng |
| Código de lengua del sumario o resumen |
spa |
| 100 1# - PUNTO DE ACCESO PRINCIPAL - NOMBRE DE PERSONA |
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| 9 (RLIN) |
15016 |
| Nombre de persona |
López Loaiza, Xavier Alexander |
| Término indicativo de función |
autor |
| 245 10 - MENCIÓN DE TÍTULO |
|---|
| Título |
Optical characterization of graphene multi-layers on SiO2 / |
| Mención de responsabilidad etc. |
Xavier Alexander López Loaiza ; tutor Julio César Chacón Torres |
| 264 #4 - PRODUCCIÓN, PUBLICACIÓN, DISTRIBUCIÓN, FABRICACIÓN Y COPYRIGHT |
|---|
| Lugar de producción |
Urcuquí, |
| Fecha de producción |
2022 |
| 300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA |
|---|
| Extensión |
57 hojas : |
| Otras características físicas |
ilustraciones (algunas a color) ; |
| Dimensiones |
30 cm + |
| Material anejo |
1 CD-ROM |
| 502 ## - NOTA DE TESIS |
|---|
| Nota de tesis |
Trabajo de integración curricular |
| Tipo de título |
(Ingeniero/a en Nanotecnología). |
| Nombre de la institución que otorga el título |
Universidad de Investigación de Tecnología Experimental Yachay. |
| Ciudad de la institución que otorga el título |
Urcuquí, |
| Año de obtención del título |
2022 |
| 504 ## - NOTA DE BIBLIOGRAFÍA; ETC. |
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| Nota de bibliografía etc. |
Incluye referencias bibliográficas (páginas 39-43) |
| 506 ## - NOTA DE RESTRICCIONES AL ACCESO |
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| Limitaciones de acceso |
Trabajo de integración curricular con acceso abierto |
| 516 ## - NOTA DE TIPO DE ARCHIVO DE ORDENADOR O DE DATOS |
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| Nota de tipo de archivo de ordenador o de datos |
Texto (Hypertexto links) |
| 520 ## - NOTA DE SUMARIO; ETC. |
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| Sumario etc. |
El grafeno es un material revolucionario que ha traido numerosas aplicaciones modernas en muchos campos de la industria. Adicionalmente, presenta algunas propiedades que lo llevan a ser usado en algunos dispositivos electrónicos. Cómo consecuencia, el poder de controlar sus propiedades, que depende en mayor parte de la síntesis, es considerado un factor importante en su eficiencia. Para estos propósitos, la caracterización de este material es extremadamente importante porque entre todos estas caracteristicas que podemos analizar, el número de capas va a determiner algunas propiedades principales sobre el material. Así, con el fin de identificar el número de capas de una hojuela de grafeno, es necesario aplicar dos importantes técnicas. En general, existen varios métodos de caracterización que nos pueden ayudar a completer esta tarea, sin embargo en este trabajo vamos a implementar dos de ellas. Estas ténicas son análisis de contraste óptico y espectroscopía de Raman. Although the optical contrast analysis is considered the simplest technique to determine the number of layers of 2D materials, it is very easy to use due to the employment of free software (ImageJ) accompanied with good results. Aunque el análisis de contraste óptico es considerado la técnica más sencilla para determinar el número de capas de materiales bidimensionales, es muy fácil de emplear debido a el uso de un software de libre acceso llamado ImageJ y acompañado de resultados precisos. Por otra parte, la espectroscopía de Raman podría ser complicado de implementar porque es difícil de diferenciar entre dos o mas capas presentes en el material y requiere equipo de laboratorio complejo. A pesar de eso, la espectroscopía de Raman será utilizada en este trabajo para complementar los resultados obtenidos del análisis de contraste óptico. El principal objetivo de este trabajo es ser capaz de identificar el número de capas usando el método de análisis de contraste óptico y que pueda ser reproducible en cualquier computadora debido al software de libre acceso que empleamos aquí. Por lo tanto, este trabajo contribuirá en la determinación de número de capas para cualquier material bidimensional hacienda el uso de este simple método presentado aquí. |
| 546 ## - NOTA DE LENGUA |
|---|
| Nota de lengua |
Textos en inglés con resúmenes en español e inglés |
| 650 #0 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA - TÉRMINO DE MATERIA |
|---|
| 9 (RLIN) |
373 |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial |
Electrónica |
| 650 #0 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA - TÉRMINO DE MATERIA |
|---|
| 9 (RLIN) |
6297 |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial |
Espectroscopía |
| 650 #0 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA - TÉRMINO DE MATERIA |
|---|
| 9 (RLIN) |
15017 |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial |
Bidimensinal |
| 650 #0 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA - TÉRMINO DE MATERIA |
|---|
| 9 (RLIN) |
15018 |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial |
ImageJ |
| 650 #0 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA - TÉRMINO DE MATERIA |
|---|
| 9 (RLIN) |
15019 |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial |
Substrato |
| 650 #0 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA - TÉRMINO DE MATERIA |
|---|
| 9 (RLIN) |
6153 |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial |
Electronics |
| 650 #0 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA - TÉRMINO DE MATERIA |
|---|
| 9 (RLIN) |
6298 |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial |
Spectroscopy |
| 650 #0 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA - TÉRMINO DE MATERIA |
|---|
| 9 (RLIN) |
15020 |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial |
2D Materials |
| 650 #0 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA - TÉRMINO DE MATERIA |
|---|
| 9 (RLIN) |
2091 |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial |
Nanotecnología |
| Subdivisión de forma |
Trabajos y disertaciones académicas |
| 700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL - NOMBRE DE PERSONA |
|---|
| 9 (RLIN) |
11234 |
| Nombre de persona |
Chacón Torres, Julio César |
| Término indicativo de función |
tutor |
| 710 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL - NOMBRE DE ENTIDAD |
|---|
| 9 (RLIN) |
11232 |
| Nombre de entidad o nombre de jurisdicción como elemento inicial |
Universidad de Investigación de Tecnología Experimental Yachay. |
| Unidad subordinada |
Escuela de Ciencias Físicas y Nanotecnología |
| 856 ## - LOCALIZACIÓN Y ACCESO ELECTRÓNICOS |
|---|
| Nota pública |
Ver recurso |
| Identificador Uniforme del Recurso (URI) |
http://repositorio.yachaytech.edu.ec/handle/123456789/550 |
| 942 ## - ENTRADA PARA ELEMENTOS AGREGADOS (KOHA) |
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| Fuente de clasificación o esquema de ordenación en estanterías |
Clasificación Decimal Dewey |
| Koha [por defecto] tipo de item |
Tesis |
