Detalles MARC
| 000 -CABECERA |
|---|
| campo de control de longitud fija |
03841cam a22005175i 4500 |
| 999 ## - NÚMEROS DE CONTROL DE SISTEMA (KOHA) |
|---|
| Koha biblionumber |
3134 |
| 001 - NÚMERO DE CONTROL |
|---|
| campo de control |
18303758 |
| 003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL |
|---|
| campo de control |
EC-UrYT |
| 005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN |
|---|
| campo de control |
20230321133331.0 |
| 006 - CÓDIGOS DE INFORMACIÓN DE LONGITUD FIJA--CARACTERÍSTICAS DEL MATERIAL ADICIONAL |
|---|
| campo de control de longitud fija |
s||||gr|||| 00| 00 |
| 008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL |
|---|
| campo de control de longitud fija |
140912s2014 nyu 000 0 eng |
| 010 ## - NÚMERO DE CONTROL DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO |
|---|
| Número de control de LC |
2014951156 |
| 020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO |
|---|
| Número Internacional Estándar del Libro |
9783662443613 |
| 020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO |
|---|
| Número Internacional Estándar del Libro |
9783662443620 (eBook) |
| 040 ## - FUENTE DE LA CATALOGACIÓN |
|---|
| Centro catalogador/agencia de origen |
Ec-UrYT |
| Lengua de catalogación |
Ec-UrYT |
| Centro/agencia transcriptor |
Ec-UrYT |
| Normas de descripción |
rda |
| Centro/agencia modificador |
DLC |
| -- |
EC-UrYT |
| 041 ## - CÓDIGO DE LENGUA |
|---|
| Código de lengua del texto/banda sonora o título independiente |
eng |
| 042 ## - CÓDIGO DE AUTENTICACIÓN |
|---|
| Código de autenticación |
pcc |
| 082 04 - NÚMERO DE LA CLASIFICACIÓN DECIMAL DEWEY |
|---|
| Número de edición |
23 |
| Número de clasificación |
537.6226 |
| 245 00 - MENCIÓN DE TÍTULO |
|---|
| Título |
X-Ray absorption spectroscopy of semiconductors / |
| Mención de responsabilidad, etc. |
Claudia S. Schnohr and Mark C. Ridgway, editors. |
| 250 ## - MENCIÓN DE EDICIÓN |
|---|
| Mención de edición |
First Edition |
| 263 ## - FECHA PROYECTADA DE PUBLICACIÓN |
|---|
| Fecha proyectada de publicación |
1409 |
| 264 34 - Producción, publicación, distribución, fabricación y copyright |
|---|
| Lugar de producción, publicación, distribución, fabricación |
New York : |
| Nombre del de productor, editor, distribuidor, fabricante |
Springer, |
| Fecha de de producción, publicación, distribución, fabricación o copyright |
2015. |
| 300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA |
|---|
| Extensión |
xvi, 361 pages : |
| Otras características físicas |
illustrations ; |
| Dimensiones |
24 cm. |
| 490 0# - MENCIÓN DE SERIE |
|---|
| Mención de serie |
Springer series in optical sciences |
| Designación de volumen o secuencia |
190. |
| 505 2# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO |
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| Nota de contenido con formato |
1 Introduction to X-Ray Absorption Spectroscopy -- Part I Crystalline Semiconductors -- 2 Binary and Ternary Random Alloys -- 3 Wide Band Gap Materials -- 4 Dopants -- 5 Complexes and Clusters -- 6 Vibrational Anisotropy -- Part II <br/>Disordered Semiconductors -- 7 Amorphous Group IV Semiconductors -- 8 Amorphous Group III-V Semiconductors -- 9 Semiconductors Under Extreme Conditions -- Part III Semiconductor Nanostructures -- 10 Group IV Quantum Dots and Nanoparticles -- 11 Group IV Nanowires -- 12 Group III-V and II-VI Quantum Dots and Nanoparticles -- 13 Group III-V and II-VI Nanowires -- Part IV Magnetic Semiconductors -- 14 Magnetic Ions in Group IV Semiconductors -- 15 Magnetic Ions in Group III-V Semiconductors -- 16 Magnetic Ions in Group II-VI Semiconductors. |
| 520 3# - SUMARIO, ETC. |
|---|
| Sumario, etc. |
X-ray Absorption Spectroscopy (XAS) is a powerful technique with which to probe the properties of matter, equally applicable to the solid, liquid and gas phases. Semiconductors are arguably our most technologically-relevant group of materials given they form the basis of the electronic and photonic devices that now so widely permeate almost every aspect of our society. The most effective utilisation of these materials today and tomorrow necessitates a detailed knowledge of their structural and vibrational properties. Through a series of comprehensive reviews, this book demonstrates the versatility of XAS for semiconductor materials analysis and presents important research activities in this ever growing field. A short introduction of the technique, aimed primarily at XAS newcomers, is followed by twenty independent chapters dedicated to distinct groups of materials. Topics span dopants in crystalline semiconductors and disorder in amorphous semiconductors to alloys and nanometric material as well as in-situ measurements of the effects of temperature and pressure. Summarizing research in their respective fields, the authors highlight important experimental findings and demonstrate the capabilities and applications of the XAS technique. This book provides a comprehensive review and valuable reference guide for both XAS newcomers and experts involved in semiconductor materials research. |
| 650 24 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
|---|
| 9 (RLIN) |
7418 |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial |
X-ray spectroscopy |
| 650 24 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
|---|
| 9 (RLIN) |
2847 |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial |
Semiconductors |
| 650 24 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
|---|
| 9 (RLIN) |
7419 |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial |
Absorption spectra |
| 650 24 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
|---|
| 9 (RLIN) |
7420 |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial |
Espectroscopía de rayos X |
| 650 24 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
|---|
| 9 (RLIN) |
103 |
| Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial |
Semiconductores |
| 650 20 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
|---|
| Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial |
Espectro |
| 9 (RLIN) |
7421 |
| 700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA |
|---|
| 9 (RLIN) |
7424 |
| Nombre de persona |
Schnohr, Claudia S. |
| Término indicativo de función/relación |
editor |
| 700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA |
|---|
| 9 (RLIN) |
7425 |
| Nombre de persona |
Ridgway, Mark C. |
| Término indicativo de función/relación |
editor |
| 856 42 - LOCALIZACIÓN Y ACCESO ELECTRÓNICOS |
|---|
| Especificación de materiales |
Publisher description |
| Identificador Uniforme del Recurso |
<a href="http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy1413/2014951156-d.html">http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy1413/2014951156-d.html</a> |
| 856 41 - LOCALIZACIÓN Y ACCESO ELECTRÓNICOS |
|---|
| Especificación de materiales |
Table of contents only |
| Identificador Uniforme del Recurso |
<a href="http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy1413/2014951156-t.html">http://www.loc.gov/catdir/enhancements/fy1413/2014951156-t.html</a> |
| 906 ## - ELEMENTOS DE DATOS F LOCAL, LDF (RLIN) |
|---|
| a |
0 |
| b |
ibc |
| c |
orignew |
| d |
2 |
| e |
epcn |
| f |
20 |
| g |
y-gencatlg |
| 942 ## - ELEMENTOS DE PUNTO DE ACCESO ADICIONAL (KOHA) |
|---|
| Fuente del sistema de clasificación o colocación |
Clasificación Decimal Dewey |
| Tipo de ítem Koha |
Colección general |
| 955 ## - INFORMACIÓN NIVEL-COPIA (RLIN) |
|---|
| Classification number, CCAL (RLIN) |
pc17 2014-09-12 |
