Detalles MARC
000 -CABECERA |
campo de control de longitud fija |
01925nam a2200421 4500 |
003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL |
campo de control |
EC-UrYT |
005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN |
campo de control |
20210827174959.0 |
006 - CÓDIGOS DE INFORMACIÓN DE LONGITUD FIJA--CARACTERÍSTICAS DEL MATERIAL ADICIONAL |
campo de control de longitud fija |
s||||gr|||| 00| 00 |
008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL |
campo de control de longitud fija |
150116t9999 xxu r | 000 0 eng d |
020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO |
Número Internacional Estándar del Libro |
9780387347585 |
040 ## - FUENTE DE LA CATALOGACIÓN |
Centro catalogador/agencia de origen |
EC-UrYT |
Centro/agencia transcriptor |
EC-UrYT |
041 ## - CÓDIGO DE LENGUA |
Código de lengua del texto/banda sonora o título independiente |
eng |
082 04 - NÚMERO DE LA CLASIFICACIÓN DECIMAL DEWEY |
Número de edición |
23 |
Número de clasificación |
530.41 |
100 1# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA |
9 (RLIN) |
7362 |
Nombre de persona |
Reimer, Ludwing |
245 10 - MENCIÓN DE TÍTULO |
Título |
Transmission electron microscopy : |
Resto del título |
physics of image formation and microanalysis / |
Mención de responsabilidad, etc. |
Ludwig Reimer y Helmut Kohl. |
250 ## - MENCIÓN DE EDICIÓN |
Mención de edición |
First Edition |
264 34 - Producción, publicación, distribución, fabricación y copyright |
Lugar de producción, publicación, distribución, fabricación |
New York : |
Nombre del de productor, editor, distribuidor, fabricante |
Springer , |
Fecha de de producción, publicación, distribución, fabricación o copyright |
2010. |
300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA |
Extensión |
587 pages : |
Otras características físicas |
illustrations ; |
Dimensiones |
24 cm. |
490 ## - MENCIÓN DE SERIE |
Mención de serie |
Springer series in optical sciences |
Designación de volumen o secuencia |
V. 36 |
505 2# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO |
Nota de contenido con formato |
Particle optics of electrons -- Wave optics of electrons -- Elements of a transmission electron microscope -- Electron-specimen interactions -- Scattering and phase contrast for amorphous specimens -- Theory of electron diffraction -- Electron-diffraction modes and applications -- Imaging of crystalline specimens and their defects -- Elemental analysis by X-ray and election energy-loss spectroscopy -- Specimen damage by electron irradiation. |
520 3# - SUMARIO, ETC. |
Sumario, etc. |
This text, the standard of the field, includes an overview of such topics as the theory of image and contrast formation as well as discussion of recent progress in the field, especially in the areas of aberration corrector and energy filtering. |
650 24 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
9 (RLIN) |
7365 |
Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial |
Transmission electron microscopy |
650 24 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
9 (RLIN) |
7366 |
Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial |
Microscopio de transmisión por electrones |
650 24 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
9 (RLIN) |
432 |
Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial |
Physics |
650 24 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
9 (RLIN) |
102 |
Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial |
Física |
650 24 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
9 (RLIN) |
5708 |
Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial |
Condensed matter |
650 24 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA |
9 (RLIN) |
5709 |
Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial |
Materia Condensada |
942 ## - ELEMENTOS DE PUNTO DE ACCESO ADICIONAL (KOHA) |
Fuente del sistema de clasificación o colocación |
Clasificación Decimal Dewey |
Tipo de ítem Koha |
Colección general |
999 ## - NÚMEROS DE CONTROL DE SISTEMA (KOHA) |
Koha biblionumber |
3110 |