Scanning probe microscopy in nanoscience and nanotechnology / (Record no. 1115)

000 -CABECERA
campo de control de longitud fija 08656cam a2200505 a 4500
999 ## - NÚMEROS DE CONTROL DE SISTEMA (KOHA)
Koha biblionumber 1115
003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL
campo de control EC-UrYT
005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN
campo de control 20200922164811.0
006 - CÓDIGOS DE INFORMACIÓN DE LONGITUD FIJA--CARACTERÍSTICAS DEL MATERIAL ADICIONAL
campo de control de longitud fija s||||gr|||| 00| 00
008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL
campo de control de longitud fija 090810s2010 gw a b 001 0 eng
020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO
Número Internacional Estándar del Libro 9783642035340 (hbk.) (vol. 1)
020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO
Número Internacional Estándar del Libro 9783642104961 (hbk.) (vol. 2)
020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO
Número Internacional Estándar del Libro 9783642254130 (hbk.) (vol. 3)
040 ## - FUENTE DE LA CATALOGACIÓN
Centro catalogador/agencia de origen EC-UrYT
Centro/agencia transcriptor EC-UrYT
Centro/agencia modificador EC-UrYT
041 ## - CÓDIGO DE LENGUA
Código de lengua del texto/banda sonora o título independiente eng
082 04 - NÚMERO DE LA CLASIFICACIÓN DECIMAL DEWEY
Número de clasificación 620.11299
Número de edición 23
Número de documento/Ítem S2839 2010-
245 00 - MENCIÓN DE TÍTULO
Título Scanning probe microscopy in nanoscience and nanotechnology /
Mención de responsabilidad, etc. Bharat Bhushan, editor.
250 ## - MENCIÓN DE EDICIÓN
Mención de edición First Edition
264 34 - Producción, publicación, distribución, fabricación y copyright
Lugar de producción, publicación, distribución, fabricación Berlin :
Nombre del de productor, editor, distribuidor, fabricante Springer ,
Fecha de de producción, publicación, distribución, fabricación o copyright 2010 - 2013.
300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA
Extensión volumes :
Otras características físicas illustrations (some color) ;
Dimensiones 24 cm.
490 0# - MENCIÓN DE SERIE
Mención de serie Nanoscience and Technology.
Número Internacional Normalizado para Publicaciones Seriadas 1434-4904
500 ## - NOTA GENERAL
Nota general Includes index.
504 ## - NOTA DE BIBLIOGRAFÍA, ETC.
Bibliografía, etc. Includes bibliographical references.
505 2# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO
Nota de contenido con formato Volume 1: Part I Scanning Probe Microscopy Techniques --<br/>1 Dynamic Force Microscopy and Spectroscopy Using the Frequency-Modulation Technique in Air and Liquids -- 2 Photonic Force Microscopy: From Femtonewton Force Sensing to Ultra-Sensitive Spectroscopy -- 3 Polarization-Sensitive Tip-Enhanced Raman Scattering -- 4<br/>Electrostatic Force Microscopy and Kelvin Force Microscopy as a Probe of the Electrostatic and Electronic Properties of Carbon Nanotubes -- 5 Carbon Nanotube Atomic Force Microscopy with Applications to Biology and Electronics -- 6 Novel Strategies to Probe the Fluid Properties and Revealing its Hidden Elasticity -- 7 Combining Atomic Force Microscopy and Depth-Sensing Instruments for the Nanometer-Scale Mechanical Characterization of Soft Matter -- 8 Static and Dynamic Structural Modeling Analysis of Atomic Force Microscope -- 9 Experimental Methods for the Calibration of Lateral Forces in Atomic Force Microscopy -- Part II: Characterization -- 10 Simultaneous Topography and Recognition Imaging -- 11 Structural and Mechanical Mechanisms of Ocular Tissues Probed by AFM -- 12 Force-Extension and Force-Clamp AFM Spectroscopies in Investigating Mechanochemical Reactions and Mechanical Properties of Single Biomolecules -- 13<br/>Multilevel Experimental and Modelling Techniques for Bioartificial Scaffolds and Matrices -- 14 Quantized Mechanics of Nanotubes and Bundles -- 15 Spin and Charge Pairing Instabilities in Nanoclusters and Nanomaterials -- 16 Mechanical Properties of One-Dimensional Nanostructures -- 17 Colossal Permittivity in Advanced Functional Heterogeneous Materials: The Relevance of the Local Measurements at Submicron Scale -- 18 Controlling Wear on Nanoscale -- 19 Contact Potential Difference Techniques as Probing Tools in Tribology and Surface Mapping -- Part III: Industrial Applications -- 20 Modern Atomic Force Microscopy and Its Application to the Study of Genome Architecture -- 21 Near-Field Optical Litography -- 22 A New AFM-Based Lithography Method: Thermochemical Nanolithography -- 23 Scanning Probe Alloying Nanolithography -- 24 Structuring the Surface of Crystallizable Polymers with an AFM Tip -- 25 Application of Contact Mode AFM to Manufacturing Processes -- 26 Scanning Probe Microscopy as a Tool Applied to Agriculture.
505 2# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO
Nota de contenido con formato Volume 2: Part I Scanning Probe Microscopy Techniques -- 1 Time-Resolved Tapping-Mode Atomic Force Microscopy -- 2 Small Amplitude Atomic Force Spectroscopy -- 3 Combining Scanning ProbeMicroscopy and Transmission Electron Microscopy -- 4 Scanning Probe Microscopy and Grazing-Incidence Small-Angle Scattering as Complementary Tools for the Investigation of Polymer Films and Surfaces -- 5 Near-Field MicrowaveMicroscopy for Nanoscience and Nanotechnology -- 6 Single Cluster AFM Manipulation: a Specialized Tool to Explore and Control Nanotribology Effects -- Part II: Characterization -- 7 Cell Adhesion Receptors Studied by AFM-Based Single-Molecule Force Spectroscopy -- 8 Biological Application of Fast-Scanning Atomic Force Microscopy -- 9 Transport Properties of Graphene with Nanoscale Lateral Resolution -- 10 Magnetic Force Microscopy Studies of Magnetic Features and Nanostructures -- 11 Semiconductors Studied by Cross-sectional Scanning Tunneling Microscopy -- 12 A Novel Approach for Oxide Scale Growth Characterization: Combining Etching with Atomic Force Microscopy -- 13 The Scanning Probe-Based Deep Oxidation Lithography and Its Application in Studying the Spreading of Liquid n-Alkane -- 14 Self-assembled Transition Metal Nanoparticles on Oxide Nanotemplates -- 15 Mechanical and Electrical Properties of Alkanethiol Self-Assembled Monolayers: A Conducting-Probe Atomic Force Microscopy Study -- 16 Assessment of Nanoadhesion and Nanofriction Properties of Formulated Cellulose-Based Biopolymers by AFM -- 17 Surface Growth Processes Induced by AFM Debris Production. A New Observable for Nanowear -- 18 Frictional Stick-Slip Dynamics in a Deformable Potential -- 19 Capillary Adhesion and Nanoscale Properties of Water -- 20 On the Sensitivity of the Capillary Adhesion Force to the Surface Roughness -- Part III: Industrial Applications -- 21 Nanoimaging, Molecular Interaction, and Nanotemplating of Human Rhinovirus -- 22 Biomimetic Tailoring of the Surface Properties of Polymers at the Nanoscale: Medical Applications -- 23 Conductive Atomic-Force Microscopy Investigation of Nanostructures in Microelectronics -- 24 Microscopic Electrical Characterization of Inorganic Semiconductor-Based Solar Cell Materials and Devices Using AFM-Based Techniques -- 25 Micro and Nanodevices for Thermoelectric Converters.
505 2# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO
Nota de contenido con formato Volume 3: Part I Scanning Probe Microscopy Techniques -- 1 Laser-Assisted Scanning Probe Alloying Nanolithography (LASPAN) -- 2 Characterization and Optimization of Quartz Tuning Fork-Based Force Sensors for Combined STM/AFM -- 3 Exploring Mesoscale Contact Mechanics by Atomic Force Microscopy -- Part II: Characterization -- 4 Atomic Force Microscopy for DNA SNP Identification -- 5 Atomic Force Microscopy of Isolated Nanostructures: Biomolecular Imaging in Hydrated Environments – Status and Future Prospects -- 6 Single-Molecule Studies of Integrins by AFM-Based Force Spectroscopy on Living Cells -- 7 Nanomechanics of Yeast Surfaces Revealed by AFM -- 8 Recent Developments in In Situ SFM of Block Copolymers: 3D Volume Structures and Dynamics -- 9 Surface Morphology and Crystallinity of Polyamides Investigated by Atomic Force Microscopy -- 10 Application of Atomic Force Microscopy in Natural Polymers -- 11 Investigation of Nanopatterned Functional Polymer Surfaces by AFM in Pulsed Force Mode -- 12 Reconstruction of Energy Surfaces from Friction Force Microscopy Measurements with the Jarzynski Equality -- 13 Contact and Friction of One- and Two-Dimensional Nanostructures -- 14 Van der Waals and Capillary Adhesion of Polycrystalline Silicon Micromachined Surfaces -- Part III: Industrial Applications -- 15 Atomic Force Microscopy in Bioengineering Applications -- 16 Bridging Nano- and Microtribology in Mechanical and Biomolecular Layers -- 17 Thin Films for Thermoelectric Applications -- 18 Evaluation of the Nanoimprinting Process Using Scanning Probe Microscopy (SPM) -- 19 Electrical Characterization of Solar Cell Materials Using Scanning Probe Microscopy -- 20 Solid-State Thin-Film Lithium Batteries for Integration in Microsystems.<br/>
520 3# - SUMARIO, ETC.
Sumario, etc. This book presents the physical and technical foundation of the state of the art in applied scanning probe techniques. It constitutes a timely and comprehensive overview of SPM applications. The chapters in this volume relate to scanning probe microscopy techniques, characterization of various materials and structures and typical industrial applications, including topographic and dynamical surface studies of thin-film semiconductors, polymers, paper, ceramics, and magnetic and biological materials. The chapters are written by leading researchers and application scientists from all over the world and from various industries to provide a broader perspective.
650 24 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA
Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial Scanning probe microscopy
9 (RLIN) 4451
650 24 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA
Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial Nanostructured materials
Subdivisión general Microscopy.
9 (RLIN) 368
650 24 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA
Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial Nanotechnology
9 (RLIN) 380
650 24 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA
Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial Engineering
9 (RLIN) 3093
650 24 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA
Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial Surfaces (Physics)
9 (RLIN) 64
650 24 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA
Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial Microscopio de sonda de barrido
9 (RLIN) 4452
650 24 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA
Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial Materiales nanoestructurados
Subdivisión general Microscopía.
9 (RLIN) 5728
650 24 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA
Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial Nanotecnología
9 (RLIN) 2091
650 24 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA
Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial Ingeniería
9 (RLIN) 1817
650 24 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA
Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial Superficies (Física)
9 (RLIN) 2523
700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona Bhushan, Bharat
Fechas asociadas al nombre 1949-
9 (RLIN) 114
Término indicativo de función/relación editor
942 ## - ELEMENTOS DE PUNTO DE ACCESO ADICIONAL (KOHA)
Fuente del sistema de clasificación o colocación
Tipo de ítem Koha Libro académico
Holdings
Estado de retiro Estado de pérdida Fuente del sistema de clasificación o colocación Estado dañado No para préstamo Localización permanente Ubicación/localización actual Fecha de adquisición Fuente de adquisición Información codificada de la localización en otra ubicación Coste, precio normal de compra Número de inventario Total de préstamos Signatura topográfica completa Código de barras Fecha visto por última vez Número de copia Tipo de ítem Koha Precio válido a partir de
          Biblioteca del Campus Biblioteca del Campus 09/04/2014 Compra Yachay EP 015879 454.58 002577   620.11299 S2839 002577 01/18/2021 Ej. 1, Vol. 1 Libro académico  
          Biblioteca del Campus Biblioteca del Campus 09/04/2014 Compra Yachay EP 015880 454.58 002578   620.11299 S2839 002578 01/18/2021 Ej. 2, Vol. 1 Libro académico 06/03/2015
          Biblioteca del Campus Biblioteca del Campus 09/04/2014 Compra Yachay EP 015878 454.58 002613   620.11299 S2839 002613 01/18/2021 Ej. 3, Vol. 1 Libro académico  
          Biblioteca del Campus Biblioteca del Campus 09/04/2014 Compra Yachay EP 015877 369.08 003497   620.11299 S2839 003497 01/18/2021 Ej. 1, Vol. 2 Libro académico  
          Biblioteca del Campus Biblioteca del Campus 09/04/2014 Compra Yachay EP 015876 369.08 003498   620.11299 S2839 003498 01/18/2021 Ej. 2, Vol. 2 Libro académico 06/03/2015
          Biblioteca del Campus Biblioteca del Campus 09/04/2014 Compra Yachay EP 015875 369.08 003499   620.11299 S2839 003499 01/18/2021 Ej. 3, Vol. 2 Libro académico 06/03/2015
          Biblioteca del Campus Biblioteca del Campus 09/04/2014 Compra Yachay EP 015864 283.58 002583   620.11299 S2839 002583 01/18/2021 Ej. 1, Vol. 3 Libro académico 05/21/2018
          Biblioteca del Campus Biblioteca del Campus 09/04/2014 Compra Yachay EP 015865 283.58 002584   620.11299 S2839 002584 01/18/2021 Ej. 2, Vol. 3 Libro académico 05/21/2018
          Biblioteca del Campus Biblioteca del Campus 09/04/2014 Compra Yachay EP 015863 283.58 002585   620.11299 S2839 002585 01/18/2021 Ej. 3, Vol. 3 Libro académico 05/21/2018