Applied scanning probe methods / Bharat Bhushan, Harald Fuchs, Sumio Hosaka [eds.].
Tipo de material: TextoDetalles de publicación: Berlin ; New York : Springer, c2004Descripción: xx, 476 p. : ill. ; 24 cmISBN:- 3540005277 (alk. paper)
- 9783540005278
- 620.112 22
- TA417.23 .A655 2004
Tipo de ítem | Biblioteca actual | Signatura | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems | |
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Colección general | Biblioteca Yachay Tech | 620.11299 A6525 2004 (Navegar estantería(Abre debajo)) | Ej. 1, Vol. 1 | Disponible | 002588 | |||
Colección general | Biblioteca Yachay Tech | 620.11299 A6525 2004 (Navegar estantería(Abre debajo)) | Ej. 2, Vol. 1 | Disponible | 002589 | |||
Colección general | Biblioteca Yachay Tech | 620.11299 A6525 2004 (Navegar estantería(Abre debajo)) | Ej. 3, Vol. 1 | Disponible | 002590 |
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