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Materials, processes, and reliability for advanced interconnects for micro- and nanoelectronics--2011 : symposium held April 25-29, 2011, San Francisco, California, U.S.A. / editors, Mikhail R. Baklanov ... [et al.]. por Series Materials Research Society symposia proceedings ; v. 1335.
Tipo de material: Texto; Formato:
impreso ; Forma literaria:
No es ficción
Detalles de publicación: Warrendale, Penn. : Cambridge ; New York : Materials Research Society ; Cambridge University Press, 2012
Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca Yachay Tech (3)Signatura topográfica: 621.3815 B1689m 2012, ...
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