Software metrics and software metrology / Alain Abran.
Tipo de material: TextoDetalles de publicación: Hoboken, N.J. : Wiley ; Los Alamitos, CA : IEEE Computer Society, c2010.Descripción: xix, 328 p. : ill. ; 24 cmISBN:- 9780470597200 (pbk.)
- 0470597208 (pbk.)
- 005.14 22
- QA76.76.S65 A27 2010
Tipo de ítem | Biblioteca actual | Signatura | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems | |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Colección general | Biblioteca Yachay Tech | 005.14 A1618s 2010 (Navegar estantería(Abre debajo)) | Ej. 1 | Disponible | 003014 | |||
Colección general | Biblioteca Yachay Tech | 005.14 A1618s 2010 (Navegar estantería(Abre debajo)) | Ej. 2 | Disponible | 003015 | |||
Colección general | Biblioteca Yachay Tech | 005.14 A1618s 2010 (Navegar estantería(Abre debajo)) | Ej. 3 | Disponible | 003016 |
Total de reservas: 0
Includes bibliographical references (p. 305-311) and index.
No hay comentarios en este titulo.
Ingresar a su cuenta para colocar un comentario.