Applied scanning probe methods III : characterization / Bharat Bhushan, Harald Fuchs [eds.]
Tipo de material: TextoSeries Nanoscience and technologyDetalles de publicación: Berlin : Springer, c2006Descripción: xliii, 378 p. : ill. ; 24 cmISBN:- 9783540269090
- Applied scanning probe methods 3
- Applied scanning probe methods three
- 620.112 22
- TA417.23 .A655 2007c
Tipo de ítem | Biblioteca actual | Signatura | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems | |
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Colección general | Biblioteca Yachay Tech | 620.11299 A6525 2006 (Navegar estantería(Abre debajo)) | Ej. 1, Vol III | Disponible | 001514 | |||
Colección general | Biblioteca Yachay Tech | 620.11299 A6525 2006 (Navegar estantería(Abre debajo)) | Ej. 2, Vol. III | Disponible | 001515 | |||
Colección general | Biblioteca Yachay Tech | 620.11299 A6525 2006 (Navegar estantería(Abre debajo)) | Ej. 3, Vol. III | Disponible | 001516 |
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