Acoustic scanning probe microscopy / (Registro nro. 391)

Detalles MARC
000 -CABECERA
campo de control de longitud fija 04156cam a22004577i 4500
001 - NÚMERO DE CONTROL
campo de control 17387332
005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN
campo de control 20150416173154.0
008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL
campo de control de longitud fija 120716s2012 gw a b 001 0 eng d
010 ## - NÚMERO DE CONTROL DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO
Número de control de LC 2012944383
016 7# - NÚMERO DE CONTROL DE UNA AGENCIA BIBLIOGRÁFICA NACIONAL
Número de control del registro 016050242
Fuente Uk
020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO
Número Internacional Estándar del Libro 9783642274930 (alk. paper)
020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO
Número Internacional Estándar del Libro 3642274935 (alk. paper)
020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO
Número Internacional Estándar del Libro 9783642274947 (ebk.)
035 ## - NÚMERO DE CONTROL DEL SISTEMA
Número de control de sistema (OCoLC)ocn767567996
040 ## - FUENTE DE LA CATALOGACIÓN
Centro catalogador/agencia de origen BTCTA
Lengua de catalogación eng
Centro/agencia transcriptor BTCTA
Centro/agencia modificador UKMGB
-- YDXCP
-- BWX
-- PAU
-- OCLCO
-- SHH
-- OCLCO
-- UND
-- OHX
-- HEBIS
-- OCLCF
-- OCLCQ
-- DLC
042 ## - CÓDIGO DE AUTENTICACIÓN
Código de autenticación lccopycat
050 00 - SIGNATURA TOPOGRÁFICA DE LA BIBLIOTECA DEL CONGRESO
Número de clasificación QH212.S33
Número de documento/Ítem A26 2013
072 #7 - CÓDIGO DE CATEGORÍA DE MATERIA
Código de categoría de materia TK
Fuente lcco
072 #7 - CÓDIGO DE CATEGORÍA DE MATERIA
Código de categoría de materia Q
Fuente lcco
082 00 - NÚMERO DE LA CLASIFICACIÓN DECIMAL DEWEY
Número de clasificación 502.8/2
Número de edición 23
245 00 - MENCIÓN DE TÍTULO
Título Acoustic scanning probe microscopy /
Mención de responsabilidad, etc. Francesco Marinello, Daniele Passeri, Enrico Savio, editors.
300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA
Extensión xxv, 494 pages :
Otras características físicas illustrations ;
Dimensiones 24 cm.
490 1# - MENCIÓN DE SERIE
Mención de serie NanoScience and technology,
Número Internacional Normalizado para Publicaciones Seriadas 1434-4904
504 ## - NOTA DE BIBLIOGRAFÍA, ETC.
Bibliografía, etc. Includes bibliographical references and index.
505 00 - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO
Título Acoustic Scanning Probe Microscopy: An Overview /
Mención de responsabilidad D. Passeri and F. Marinello --
Título Contact, Interactions, and Dynamics /
Mención de responsabilidad E. Barthel --
Título Cantilever Dynamics: Theoretical Modeling /
Mención de responsabilidad John H. Cantrell and Sean A. Cantrell --
Título One-Dimensional Finite Element Modeling of AFM Cantilevers /
Mención de responsabilidad Richard Arinero and Gérard Lévêque --
Título Atomic Force Acoustic Microscopy /
Mención de responsabilidad U. Rabe, M. Kopycinska-Müller and S. Hirsekorn --
Título Ultrasonic Atomic Force Microscopy UAFM /
Mención de responsabilidad Kazushi Yamanaka and Toshihiro Tsuji --
Título Enhanced Sensitivity of AFAM and UAFM by Concentrated-Mass Cantilevers /
Mención de responsabilidad Mikio Muraoka --
Título Scanning Microdeformation Microscopy: Advances in Quantitative Micro- and Nanometrology /
Mención de responsabilidad P. Vairac, J. Le Rouzic, P. Delobelle and B. Cretin --
Título Ultrasonic Force Microscopies /
Mención de responsabilidad Oleg Kolosov and Andrew Briggs --
Título Scanning Near-Field Ultrasound Holography /
Mención de responsabilidad Shraddha Avasthy, Gajendra S. Shekhawat and Vinayak P. Dravid --
Título Mapping of the Surface's Mechanical Properties Through Analysis of Torsional Cantilever Bending in Dynamic Force Microscopy /
Mención de responsabilidad Andrzej Sikora and Łukasz Bednarz --
Título Quantitative Measurements of Elastic Properties with Ultrasonic-Based AFM and Conventional Techniques /
Mención de responsabilidad D.C. Hurley --
Título Data Processing for Acoustic Probe Microscopy Techniques /
Mención de responsabilidad F. Marinello, D. Passeri, P. Schiavuta and E. Savio --
Título Friction and Internal Friction Measurements by Atomic Force Acoustic Microscopy /
Mención de responsabilidad A. Caron and W. Arnold --
Título Quantitative Subsurface Imaging by Acoustic AFM Techniques /
Mención de responsabilidad Zehra Parlak and Levent F. Degertekin --
Título Polymer Material Characterization by Acoustic Force Microscopy /
Mención de responsabilidad Chad S. Korach --
Título Application of Acoustic Techniques for Characterization of Biological Samples /
Mención de responsabilidad Bernhard R. Tittmann and Anne Ebert.
520 ## - SUMARIO, ETC.
Sumario, etc. The combination of atomic force microscopy with ultrasonic methods allows the nearfield detection of acoustic signals. The nondestructive characterization and nanoscale quantitative mapping of surface adhesion and stiffness or friction is possible. The aim of this book is to provide a comprehensive review of different scanning probe acoustic techniques, including AFAM, UAFM, SNFUH, UFM, SMM and torsional tapping modes. Basic theoretical explanations are given to understand not only the probe dynamics but also the dynamics of tip surface contacts. Calibration and enhancement are discussed to better define the performance of the techniques, which are also compared with other classical techniques such as nanoindentation or surface acoustic wave. Different application fields are described, including biological surfaces, polymers and thin films.--
650 #0 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA
Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial Scanning probe microscopy.
650 #0 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA
Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial Acoustic microscopy.
650 #7 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA
Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial Acoustic microscopy.
Fuente del encabezamiento o término fast
650 #7 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA
Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial Scanning probe microscopy.
Fuente del encabezamiento o término fast
650 #7 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA
Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial Rasterkraftmikroskopie
Fuente del encabezamiento o término gnd
650 #7 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA
Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial Akustische Mikroskopie
Fuente del encabezamiento o término gnd
700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona Marinello, Francesco.
700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona Passeri, Daniele.
700 1# - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL--NOMBRE DE PERSONA
Nombre de persona Savio, Enrico.
830 #0 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE SERIE-TÍTULO UNIFORME
Título uniforme Nanoscience and technology.
906 ## - ELEMENTOS DE DATOS F LOCAL, LDF (RLIN)
a 7
b cbc
c copycat
d 2
e ncip
f 20
g y-gencatlg
942 ## - ELEMENTOS DE PUNTO DE ACCESO ADICIONAL (KOHA)
Fuente del sistema de clasificación o colocación Clasificación Decimal Dewey
Tipo de ítem Koha Colección general
955 ## - INFORMACIÓN NIVEL-COPIA (RLIN)
Número de libro/signatura topográfica indivisible, CCAL (RLIN) rl09 2014-10-10 z-processor
Estado de la copia, CST (RLIN) rl09 2014-10-15 ; to Dewey
955 ## - INFORMACIÓN NIVEL-COPIA (RLIN)
Classification number, CCAL (RLIN) pc17 2012-07-16
-- xh00 2012-12-12 to STM
999 ## - NÚMEROS DE CONTROL DE SISTEMA (KOHA)
Koha biblionumber 391
Existencias
Estado de retiro Estado de pérdida Estado dañado No para préstamo Localización permanente Ubicación/localización actual Fecha de adquisición Fuente de adquisición Coste, precio normal de compra Número de inventario Total de préstamos Signatura topográfica completa Código de barras Fecha visto por última vez Número de copia Precio válido a partir de Tipo de ítem Koha
        Biblioteca Yachay Tech Biblioteca Yachay Tech 09/04/2014 Compra 240.83 001422   502.82 A185 2013 001422 01/18/2021 Ej. 1 04/16/2015 Colección general
        Biblioteca Yachay Tech Biblioteca Yachay Tech 09/04/2014 Compra 240.83 001423   502.82 A185 2013 001423 01/18/2021 Ej. 2 04/16/2015 Colección general
        Biblioteca Yachay Tech Biblioteca Yachay Tech 09/04/2014 Compra 240.83 001424   502.82 A185 2013 001424 01/18/2021 Ej. 3 04/16/2015 Colección general

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