Transmission electron microscopy : (Registro nro. 3110)

Detalles MARC
000 -CABECERA
campo de control de longitud fija 01925nam a2200421 4500
003 - IDENTIFICADOR DEL NÚMERO DE CONTROL
campo de control EC-UrYT
005 - FECHA Y HORA DE LA ÚLTIMA TRANSACCIÓN
campo de control 20210827174959.0
006 - CÓDIGOS DE INFORMACIÓN DE LONGITUD FIJA--CARACTERÍSTICAS DEL MATERIAL ADICIONAL
campo de control de longitud fija s||||gr|||| 00| 00
008 - DATOS DE LONGITUD FIJA--INFORMACIÓN GENERAL
campo de control de longitud fija 150116t9999 xxu r | 000 0 eng d
020 ## - NÚMERO INTERNACIONAL ESTÁNDAR DEL LIBRO
Número Internacional Estándar del Libro 9780387347585
040 ## - FUENTE DE LA CATALOGACIÓN
Centro catalogador/agencia de origen EC-UrYT
Centro/agencia transcriptor EC-UrYT
041 ## - CÓDIGO DE LENGUA
Código de lengua del texto/banda sonora o título independiente eng
082 04 - NÚMERO DE LA CLASIFICACIÓN DECIMAL DEWEY
Número de edición 23
Número de clasificación 530.41
100 1# - ENTRADA PRINCIPAL--NOMBRE DE PERSONA
9 (RLIN) 7362
Nombre de persona Reimer, Ludwing
245 10 - MENCIÓN DE TÍTULO
Título Transmission electron microscopy :
Resto del título physics of image formation and microanalysis /
Mención de responsabilidad, etc. Ludwig Reimer y Helmut Kohl.
250 ## - MENCIÓN DE EDICIÓN
Mención de edición First Edition
264 34 - Producción, publicación, distribución, fabricación y copyright
Lugar de producción, publicación, distribución, fabricación New York :
Nombre del de productor, editor, distribuidor, fabricante Springer ,
Fecha de de producción, publicación, distribución, fabricación o copyright 2010.
300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA
Extensión 587 pages :
Otras características físicas illustrations ;
Dimensiones 24 cm.
490 ## - MENCIÓN DE SERIE
Mención de serie Springer series in optical sciences
Designación de volumen o secuencia V. 36
505 2# - NOTA DE CONTENIDO CON FORMATO
Nota de contenido con formato Particle optics of electrons -- Wave optics of electrons -- Elements of a transmission electron microscope -- Electron-specimen interactions -- Scattering and phase contrast for amorphous specimens -- Theory of electron diffraction -- Electron-diffraction modes and applications -- Imaging of crystalline specimens and their defects -- Elemental analysis by X-ray and election energy-loss spectroscopy -- Specimen damage by electron irradiation.
520 3# - SUMARIO, ETC.
Sumario, etc. This text, the standard of the field, includes an overview of such topics as the theory of image and contrast formation as well as discussion of recent progress in the field, especially in the areas of aberration corrector and energy filtering.
650 24 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA
9 (RLIN) 7365
Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial Transmission electron microscopy
650 24 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA
9 (RLIN) 7366
Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial Microscopio de transmisión por electrones
650 24 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA
9 (RLIN) 432
Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial Physics
650 24 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA
9 (RLIN) 102
Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial Física
650 24 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA
9 (RLIN) 5708
Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial Condensed matter
650 24 - PUNTO DE ACCESO ADICIONAL DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA
9 (RLIN) 5709
Término de materia o nombre geográfico como elemento inicial Materia Condensada
942 ## - ELEMENTOS DE PUNTO DE ACCESO ADICIONAL (KOHA)
Fuente del sistema de clasificación o colocación Clasificación Decimal Dewey
Tipo de ítem Koha Colección general
999 ## - NÚMEROS DE CONTROL DE SISTEMA (KOHA)
Koha biblionumber 3110
Existencias
Estado de retiro Estado de pérdida Fuente del sistema de clasificación o colocación Estado dañado No para préstamo Localización permanente Ubicación/localización actual Fecha de adquisición Fuente de adquisición Coste, precio normal de compra Número de inventario Total de préstamos Signatura topográfica completa Código de barras Fecha visto por última vez Número de copia Precio válido a partir de Tipo de ítem Koha
    Clasificación Decimal Dewey     Biblioteca Yachay Tech Biblioteca Yachay Tech 02/05/2018 Compra EBSCO 177.00 005680   530.41 R363t 2010 005680 01/18/2021 Ej. 1 03/21/2018 Colección general

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